Determination of the effective refractive index of nanoparticulate ITO layers

نویسندگان
چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

investigation of effective parameters on the rigidity of light composite diaphragms (psscb) by fem

در این رساله با معرفی سقف های psscb متشکل از ترکیب ورق های فولادی ذوزنقه ای و تخته های سیمانی الیافی به عنوان سقف های پیش ساخته (سازگار با سیستم سازه ای قاب های فولادی سبک) به بررسی پارامترهای موثر بر صلبیت سقف، پرداخته می شود. در تحقیق حاضر ابتدا به مدل سازی دو نمونه سقف آزمایش شده، به روش اجزاء محدود با استفاده از نرم افزار تحلیلی abaqus ver 6.10 پرداخته شده است. نمونه های ساخته شده تحت اعما...

Control capability of electrolytic concentration on refractive index and dielectric constant of porous Silicon layers

Porous Silicon (PS) samples have been prepared by electrochemical anodization of p-type silicon wafer by varying HF concentrations in the electrolytic solution. The structural, surface morphological, optical and surface composition analysis of the prepared samples were done by X-ray diffraction (XRD), Scanning electron microscopy (SEM), Photoluminescence (PL) and Fourier transform infr...

متن کامل

determination of maximal singularity free zones in the workspace of parallel manipulator

due to the limiting workspace of parallel manipulator and regarding to finding the trajectory planning of singularity free at workspace is difficult, so finding a best solution that can develop a technique to determine the singularity-free zones in the workspace of parallel manipulators is highly important. in this thesis a simple and new technique are presented to determine the maximal singula...

15 صفحه اول

Refractive index determination

The central focal masking ("dispersion staining") technique is convenient and effective for determining the refractive index of a microfragment by the immersion method and for distinguishing between minerals in an immersion mount. For most microscopes the only modification needed is the installation of a small opaque dot at or near the focal point of the medium power objective. White light illu...

متن کامل

Control capability of electrolytic concentration on refractive index and dielectric constant of porous Silicon layers

Porous Silicon (PS) samples have been prepared by electrochemical anodization of p-type silicon wafer by varying HF concentrations in the electrolytic solution. The structural, surface morphological, optical and surface composition analysis of the prepared samples were done by X-ray diffraction (XRD), Scanning electron microscopy (SEM), Photoluminescence (PL) and Fourier transform infr...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Optics Express

سال: 2013

ISSN: 1094-4087

DOI: 10.1364/oe.21.022754